什么是氧化誘導(dǎo)期？

　　氧化誘導(dǎo)期（OIT）是測定試樣在高溫（200攝氏度）氧氣條件下開始發(fā)生自動催化氧化反應(yīng)的時間，是評價材料在成型加工、儲存、焊接和使用中耐熱降解能力的指標(biāo)。氧化誘導(dǎo)期（簡稱OIT）方法是一種采用差熱分析法（DTA）以塑料分子鏈斷裂時的放熱反應(yīng)為依據(jù)，測試塑料在高溫氧氣中加速老化程度的方法。其原理是：將塑料試樣與惰性參比物（如氧化鋁）置于差熱分析儀中，使其在一定溫度下用氧氣迅速置換試樣室內(nèi)的惰性氣體（如氮?dú)猓y試由于試樣氧化而引起的DTA曲線（差熱譜）的變化，并獲得氧化誘導(dǎo)期（時間）OIT（min)，以評定塑料的防熱老化性能。

　　

　　同一種材料測得的數(shù)據(jù)分散性往往超出了正常的試驗(yàn)允許誤差范圍。因此測試條件的正確選擇非常重要，下面我們就來看看儀器因素：

　　1、氧化誘導(dǎo)期分析儀用于無機(jī)和非金屬材料分析，此時氣體能直接從試樣旁流過，較好地實(shí)現(xiàn)了氣體氛圍的轉(zhuǎn)換。而采用平頂石英罩管時，由于氣體的進(jìn)出口都在樣品桿下方，位于樣品桿上方試樣周圍的氣體無法迅速*置換，從而帶來很大的試驗(yàn)誤差。

　　2、OIT的測量是指樣品在某一固定溫度下，從接觸氧氣的一瞬間開始計(jì)時，至材料發(fā)生氧化反應(yīng)大量放熱所經(jīng)歷的時間長短。在爐體的冷卻水或進(jìn)出水口方向接錯，都會使得冷端溫度高于補(bǔ)償電路中銅電阻的溫度(室溫)，從而影響溫度的準(zhǔn)確測量，直接導(dǎo)致試驗(yàn)誤差。

　　3、在長期使用過程中，熱電偶測量端遭到試樣逸出物污染、補(bǔ)償電路中銅電阻的老化等因素都會造成熱電偶測溫準(zhǔn)確性的下降，溫度值漂移。因此需定期采用標(biāo)準(zhǔn)樣品(銦、錫)來標(biāo)定熱電偶，以保證測溫的準(zhǔn)確。